Tesi magistrale
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663 lines
30 KiB

  1. %%%%%%%%% %%%%%%%%% %%%%%%%%% %%%%%%%%% %%%%%%%%% %%%%%%%%% %%%%%%%%%
  2. \chapter{Apparato sperimentale}
  3. \label{cap:setup}
  4. L'apparato sperimentale realizzato consiste in un microscopio
  5. invertito, progettato con la collaborazione dell'Officina Meccanica
  6. del LENS, che combina l'illuminazione a luce trasmessa con un sistema
  7. di due pinzette ottiche posizionabili attraverso deflettori acusto-ottici
  8. e con uno
  9. schema di microscopia di epifluorescenza, in grado di raggiungere
  10. la sensibilità di singola molecola e di alternare diversi schemi
  11. di illuminazione (campo largo, TIRF, HILO).
  12. Una rappresentazione schematica del microscopio è mostrata in figura
  13. \ref{fig:microscope}.
  14. %%%%%%%%% %%%%%%%%% %%%%%%%%% %%%%%%%%% %%%%%%%%% %%%%%%%%% %%%%%%%%%
  15. Il sistema è ottimizzato per consentire la coesistenza e il
  16. funzionamento simultaneo - minimizzando le sovrapposizioni
  17. spettrali - dei tre principali
  18. schemi di microscopia e manipolazione:
  19. \begin{description}
  20. \item[Illuminazione a luce trasmessa:] la luce emessa da una
  21. sorgente LED viene collimata da un
  22. condensatore e trasmessa dall'alto verso il basso attraverso
  23. il campione.
  24. L'obiettivo posto sotto il campione raccoglie la luce
  25. trasmessa e ricostruisce un'immagine ingrandita dello stesso.
  26. \item[Pinzette ottiche:] due intensi fasci laser vengono
  27. collimati sul piano focale posteriore dell'obiettivo,
  28. quindi focalizzati sul campione. In questo modo possono
  29. essere usati per intrappolare e manipolare microsfere
  30. in soluzione. La radiazione laser che attraversa
  31. il campione e viene raccolta dal condensatore può essere
  32. analizzata per monitorare lo stato delle trappole e lo
  33. spostamento dal centro delle sfere intrappolate.
  34. \item[Epifluorescenza:] Un fascio laser di eccitazione viene
  35. focalizzato sul piano focale posteriore dell'obiettivo, e
  36. quindi trasmesso collimato attraverso il campione. La
  37. radiazione di fluorescenza emessa all'indietro dal campione
  38. viene nuovamente raccolta dall'obiettivo e attraverso
  39. un opportuno specchio dicroico disaccoppiata dal fascio
  40. di eccitazione.
  41. \end{description}
  42. \begin{figure}[ht]
  43. \centering
  44. \includegraphics[width=1.1\linewidth]{images/microscope.pdf}
  45. \caption{Schema delle componenti principali del microscopio e dei percorsi
  46. ottici utilizzati. A: luce trasmessa, B: pinzette ottiche, C: epifluorescenza.}
  47. \label{fig:microscope}
  48. \end{figure}
  49. Per evitare interferenze è stato necessario
  50. scegliere opportune lunghezze d'onda per i tre schemi ottici
  51. e, di conseguenza, appropriati specchi dicroici
  52. e filtri.
  53. L'illuminazione a luce trasmessa è realizzata sfruttando una
  54. sorgente LED con spettro di emissione centrato a \SI{780}{\nm},
  55. le due pinzette ottiche vengono realizzate partendo da un laser
  56. a stato solido Nd:YAG con emissione a \SI{1064}{\nm}. Per la
  57. microscopia di fluorescenza si usano per l'eccitazione sorgenti
  58. laser a diodo alle lunghezze d'onda di \SIlist{488;532;635}{\nm} e
  59. l'emissione dei fluorofori fino a \SI{700}{\nm} può essere raccolta
  60. e disaccoppiata dall'illuminazione a luce trasmessa.
  61. Tuttavia, la necessità di ottenere una sensibilità di singola molecola
  62. rende particolarmente critica la scelta delle caratteristiche
  63. spettrali e di qualità delle sorgenti e delle componenti ottiche
  64. utilizzate. In particolare, come vedremo nel dettaglio in sezione
  65. \ref{sec:stabilization}, la stabilizzazione meccanica del sistema
  66. richiede un’illuminazione a luce trasmessa del campione di intensità
  67. sufficiente a produrre una chiara immagine delle microsfere
  68. immobilizzate sui sensori CMOS. Allo stesso tempo, la microscopia di
  69. fluorescenza richiede la rilevazione di segnali estremamente deboli,
  70. attraverso un sensore di tipo EmCCD raffreddato estremamente
  71. sensibile. In questo contesto, anche il passaggio di pochi fotoni al
  72. secondo tra i due cammini ottici comprometterebbe la sensibilità del
  73. sistema. Per risolvere questo problema è state scelta una sorgente LED
  74. con un profilo di emissione sufficientemente lontano dalle lunghezze
  75. d’onda usate per la fluorescenza (400-700 nm) e il posizionamento di
  76. un filtro ad alta efficienza per per eliminare l’emissione residua del
  77. LED nella regione di sovrapposizione. Un altra serie di filtri ad
  78. altra efficienza è stata posta in prossimità del sensore EMCCD,
  79. procendendo anche alla completa separazione spaziale (attraverso tubi,
  80. diaframmi e separatori) del cammino ottico, in modo eliminare quasi
  81. completamente la componente di radiazione LED che raggiunge la
  82. camera. L’utilizzo di un LED con emissione centrata nel vicino
  83. infrarosso, con lunghezza d’onda sensibilmente più vicina al diametro
  84. delle microsfere utilizzate, ha inoltre effetti significativi sul
  85. profilo radiale di intensità delle immagini prodotte delle
  86. microsfere. Questa differenza, rispetto ai profili osservati con un
  87. illuminazione alle lunghezze d’onda del visibile, ha reso necessario
  88. lo sviluppo ex-novo di un algoritmo per la determinazione della
  89. posizione del piano focale rispetto al centro della sfera, descritto
  90. sempre in sezione \ref{sec:stabilization}.
  91. \section{Microscopio e traslatori}
  92. Gli elementi ottici e optomeccanici principali che costituiscono
  93. il microscopio sono assemblati su una struttura metallica
  94. personalizzata, realizzata dall'Officina Meccanica del LENS.
  95. Questa struttura è poggiata su un tavolo ottico attraverso quattro
  96. elastomeri termoplastici (Newport NewDamp™) in grado di attenuare
  97. significativamente le vibrazioni meccaniche.
  98. Il tavolo ottico (Melles-Griot) è a sua volta isolato dal pavimento
  99. attraverso un sistema di smorzamento attivo ad aria compressa.
  100. Una miscela in soluzione acquosa delle varie molecole necessarie
  101. per gli esperimenti viene caricata in una camera di reazione
  102. realizzata tra due vetrini (portaoggetti e coprioggetti).
  103. Il preparato così assemblato viene fissato nel microscopio, attraverso
  104. quattro viti, su un tavolino traslatore (il \textit{traslatore corto
  105. raggio} in figura \ref{fig:microscope}), trovandosi quindi tra il
  106. \textit{condensatore} e l'\textit{obiettivo}.
  107. Per gli scopi di questa tesi sono stati usati due obiettivi
  108. differenti:
  109. \begin{itemize}
  110. \item Un obiettivo planapocromatico 60x a immersione ad acqua, con
  111. alta apertura numerica ($NA = 1.22$) e distanza di lavoro di
  112. \SI{0.2}{\mm} (Nikon)
  113. \item Un obiettivo TIRF 60x a immersione a olio, con alta apertura
  114. numerica ($NA = 1.49$) e distanza di lavoro di \SI{0.13}{\mm}
  115. (Nikon).
  116. \end{itemize}
  117. Il primo obiettivo presenta le caratteristiche migliori per quanto
  118. riguarda l'efficienza delle pinzette ottiche, anche a profondità
  119. significative all'interno del campione.
  120. Il secondo obiettivo invece permette la realizzazione di schemi di
  121. illuminazione TIRF, al prezzo di un'efficienza delle pinzette ottiche
  122. che decresce rapidamente all'aumentare del volume di campione
  123. attraversato.
  124. La posizione del campione rispetto al centro del percorso ottico può
  125. essere modificata attraverso due traslatori controllati
  126. elettronicamente, uno, il traslatore a corto raggio, di tipo
  127. piezoelettrico (Physik Instrumente, P-527) per spostamenti veloci e
  128. con risoluzione di \SI{1}{\nm}, con una corsa di \SI{100}{\um} per
  129. asse, e l'altro, il translatore a lungo raggio, dotato di un motore
  130. piezoelettrico (Steinmeyer, KDT105-PM) per spostamenti macroscopici con
  131. una corsa di \SI{50}{\mm} per asse e risoluzioni di \SI{100}{\nm}.
  132. Il piano focale può essere modificato variando la posizione
  133. dell'obiettivo, grazie a un posizionatore verticale piezoelettrico
  134. (Physik Instrumente, PIFOC™ P-725) con con una corsa di \SI{400}{\um}
  135. e risoluzione di \SI{2}{\nm}. Il microscopio è stato progettato in modo
  136. che al centro della corsa il piano focale si trovi in corrispondenza
  137. della superficie interna del vetrino portaoggetti (per un campione
  138. preparato nel modo descritto nei paragrafi precedenti).
  139. I posizionatori piezoelettrici per lo stage XY e per l'obiettivo
  140. sono connessi a due moduli elettronici di controllo (rispettivamente
  141. E-517 e E-665) e dotati di sensori che permettono il funzionamento in
  142. modalità a ciclo chiuso. I motori passo-passo del traslatore a lungo
  143. raggio sono invece controllati da un modulo elettronico fornito da
  144. Galil Motion Control e equipaggiati di un \textit{encoder} che
  145. permette la selezione e il monitoraggio della velocità di spostamento.
  146. Le tre unità di controllo sono connesse ad un PC mediante interfaccia
  147. seriale RS232 e possono essere programmate e controllate usando
  148. i protocolli di comunicazione GCS per i moduli Physik Instrumente
  149. e GC \cite{gclib} per il modulo Galil Motion Control.
  150. Per semplificare l'utilizzo dei tre gli attuatori durante
  151. la manipolazione di un campione è stato programma
  152. in ambiente LabVIEW che implementa i protocolli di comunicazione
  153. richiesti (\texttt{Joystick Control}).
  154. In particolare il codice sviluppato consente di utilizzare
  155. levette analogiche e cursori di un \textit{controller} della console
  156. Xbox 360 (Microsoft) per inviare comandi agli attuatori, rendendo la
  157. manipolazione del campione particolarmente semplice e intuitiva.
  158. \section{Illuminazione a luce trasmessa}
  159. La radiazione emessa da un LED ad alta intensità (Thorlabs, M780L3)
  160. con picco di emissione centrato nell'infrarosso, a \SI{780}{nm}, viene
  161. filtrata con un filtro passa-basso (Thorlabs, FEHL0750) in modo da
  162. sopprimere l'emissione a lunghezze d'onda inferiori a \SI{750}{nm} che
  163. andrebbe a interferire con il rilevamento della fluorescenza.
  164. Successivamente, con l'ausilio di una singola lente e un accoppiatore
  165. in fibra (Thorlabs), la radiazione emessa dal LED e filtrata viene
  166. immessa in una fibra ottica e trasportata in corrispondenza del
  167. microscopio. All'altra estremità della fibra, in basso a destra nello
  168. schema ottico mostrato in figura \ref{fig:setup}, un sistema formato
  169. da un collimatore, un diaframma e una lente (\texttt{L-BF} nello
  170. schema) aggiusta le dimensioni e la divergenza del fascio di
  171. illuminazione, focalizzandolo sul piano focale posteriore del
  172. condensatore. Il fascio di illuminazione collimato illumina il
  173. campione, lo attraversa e la radiazione trasmessa e diffusa viene
  174. raccolta dall'obiettivo. Gli obiettivi usati sono corretti
  175. all'infinito, questo significa che le aberrazioni sono corrette quando
  176. il campione è posto sul piano focale anteriore dell'obiettivo e i
  177. raggi provenienti da tale piano e in uscita dall'obiettivo sono
  178. collimati. Inserendo nel percorso ottico una \textit{tube lens}
  179. (\texttt{L-Im1}), posta dopo il dicroico di fluorescenza
  180. (\texttt{DIC-Fluor}), l'immagine viene quindi formata sul piano focale
  181. (\texttt{Image plane}) della stessa lente. La distanza focale
  182. dell'obiettivo è di \SI{3.3}{\mm}, quella della \textit{tube lens} di
  183. \SI{250}{\mm}. Otteniamo quindi la formazione di un'immagine del
  184. piano del campione selezionato a una distanza di \SI{250}{\mm} dalla
  185. lente e con un fattore di ingrandimento $M = 250/3.3 \approx 75$.
  186. Questa immagine viene ulteriormente ingrandita mediante l'uso di
  187. un'ulteriore lente (\texttt{L-Im2}) con distanza focale \SI{75}{\mm}
  188. posta a \SI{350}{mm} dalla lente di tubo. In questo modo si ottiene,
  189. a una distanza di \SI{30}{\cm} dall'ultima lente, un ulteriore
  190. ingrandimento di un fattore $M' = 300 / (350-250) = 3$. A questa
  191. distanza l'immagine viene rilevata, dopo aver diviso il cammino ottico
  192. in due rami con un \textit{beam-splitter} (\texttt{BS-BF}), da due
  193. sensori CMOS monocromatici (Thorlabs DCC1545M). La potenza viene
  194. suddivisa tra i due sensori secondo il rapporto 90:10. Il sensore che
  195. riceve la frazione maggiore di potenza sarà utilizzato per il sistema
  196. attivo di stabilizzazione meccanica (descritto in sezione
  197. \ref{sec:stabilization}), dopo aver filtrato la radiazione residua a
  198. \SI{1064}{\nm} con un apposito filtro (\texttt{F-BlockTwz}); l'altro
  199. sensore verrà utilizzato per mostrare costantemente su un monitor
  200. l'immagine del campione.
  201. I sensori CMOS usati hanno una risoluzione di \SI{1280x1024}{pixel} e
  202. un'area attiva di \SI{6.66x5.32}{\mm}, corrispondenti a una dimensione
  203. di \SI{5.2x5.2}{\um} per ogni pixel. La velocità di acquisizione è di
  204. \SI{30}{fps} per l'intera superficie del sesnore, ma è possibile
  205. incrementarla riducendo la dimensione della regione
  206. d'interesse.
  207. Tenendo conto del fattore complessivo di ingrandimento
  208. ($75\times 3 = 225$) un'immagine completa corrisponde a una regione
  209. del campione \SI{30x24}{\um}, la dimensione di un singolo pixel
  210. corrisponde invece ad un quadrato di lato \SI{23}{\nm} sul campione.
  211. I valori corretti possono essere determinati solo sperimentalmente
  212. dopo aver fissato l'allineamento del percorso ottico e delle
  213. telecamere.
  214. Per ottenere i fattori reali di conversione tra pixel e dimensioni sul
  215. campione ho sviluppato un programma in ampiente LabVIEW che,
  216. sfruttando una microsfera immobilizzata sul vetrino portaoggetti,
  217. consente di eseguire una calibrazione assistita (sezione
  218. \ref{sec:stabilization}).
  219. \section{Pinzette ottiche}
  220. \label{sec:tweezer}
  221. Il fascio \textit{laser} collimato in uscita da una sorgente
  222. \ce{Nd}:\ce{YVO4}, in alto a destra nello schema di figura
  223. \ref{fig:setup}, dopo essere stato ridotto in diametro
  224. grazie a un telescopio (lenti \texttt{L-TS4a} e \texttt{L-TS4b}),
  225. attraversa immediatamente una serie di due isolatori
  226. ottici, necessari per ridurre al minimo le instabilità della sorgente
  227. dovute alla retro-riflessione, e viene nuovamente ingrandito con un
  228. secondo telescopio (lenti \texttt{L-TS5a} e \texttt{L-TS5b}).
  229. Successivamente, dopo aver attraversato una lamina $\lambda/2$,
  230. viene diviso da un \textit{beam splitter} polarizzatore (\texttt{BS-Twz1})
  231. in due fasci ortogonali.
  232. I due fasci avranno polarizzazioni parallele o perpendicolari rispetto
  233. alla superficie del tavolo ottico, e la lamina $\lambda/2$ consente di
  234. modificare la ripartizione di potenza tra i due rami.
  235. I due rami vengono ricombinati utilizzando un secondo cubo
  236. polarizzatore (\texttt{BS-Twz2}), dopo aver attraversato due
  237. deflettori acusto-ottici
  238. (\textit{Acousto Optic Deflector, AOD}).
  239. Gli AOD vengono realizzati ponendo un cristallo di diossido
  240. di tellurio (\ce{TeO2}) in contatto
  241. con un trasduttore piezoelettrico: la radiofrequenza trasmessa al
  242. trasduttore consente l'instaurazione di un onda stazionaria acustica
  243. all'interno del cristallo, che si comporta sostanzialmente come un
  244. reticolo di diffrazione. Variando l'ampiezza e la frequenza del
  245. segnale
  246. elettrico inviato agli AOD è possibile modificare le caratteristiche
  247. dell'onda acustica stazionaria nel cristallo, e quindi ottenere una
  248. deflessiondel fascio in uscita.
  249. Gli elementi ottici sono allineati in modo che quando a entrambi
  250. gli AOD viene applicato un segnale di \SI{75}{MHz} i due rami
  251. incidano perpendicolarmente sull'ultimo cubo polarizzatore e proseguano
  252. il loro percorso esattamente sovrapposti (linea continua nella
  253. figura \ref{fig:aom}).
  254. \begin{figure}[ht]
  255. \centering
  256. \includegraphics[width=\linewidth]{images/aom.pdf}
  257. \caption{Schema per la realizzazione di due pinzette ottiche
  258. indipendenti.}
  259. \label{fig:aom}
  260. \end{figure}
  261. Una coppia di lenti piano-convesse incrementa la dimensione del fascio
  262. e rende il
  263. piano focale posteriore dell'obiettivo coniugato con il piano
  264. delle uscite degli AOD. In questo modo, per qualsiasi deflessione
  265. angolare introdotta sui due rami i fasci delle due trappole
  266. passeranno sempre collimati per il centro del piano focale posteriore
  267. dell'obiettivo, con angolo d'incidenza dipendente dalla radiofrequenza
  268. applicata. I fasci, quindi, attraversano l'obiettivo e vengono
  269. focalizzati dentro il campione propagandosi parallelamente all'asse
  270. ottico principale. La variazione di angolo di incidenza nel piano
  271. focale posteriore dell'obiettivo si tradue in uno spostamento
  272. orizzontale dei fasci nel piano del campione: in questo modo,
  273. regolando la radiofrequenza degli AOD è possibile spostare la posizione
  274. delle trappole lungo una linea orizzontale all'interno del campione.
  275. I fattori di conversione tra posizione della trappola nel campione e
  276. frequenza inviata all'AOD, determinati dalle caratteristiche degli AOD
  277. e dalla geometria del sistema ottico, vengono determinati a posteriori
  278. visualizzando microsfere intrappolate e creando rette di calibrazione
  279. (vedi sezione \ref{sec:calibration}).
  280. I deflettori acusto-ottici utilizzati (AA Opto-Electronic, DTSXY-250)
  281. sfruttano onde acustiche di taglio, in cui la velocità di propagazione
  282. dell'onda è perpendicolare al fascio in ingresso; in questo modo i
  283. nodi dell'onda stazionaria si dispongono lungo un asse parallela al
  284. banco ottico.
  285. Questo tipo di deflettori richiedono una polarizzazione in
  286. ingresso lineare e perpendicolare all'onda acustica e producono in uscita un fascio con polarizzazione ortogonale rispetto a quella in ingresso.
  287. Per questo nel
  288. percorso ottico vengono aggiunte due ulteriori lamine $\lambda / 2$:
  289. una permette di aver per entrambi gli AOD la stessa polarizzazione in
  290. ingresso, la seconda ruota nuovamente di \SI{90}{\degree} la
  291. polarizzazione di uno dei due fasci in modo che abbiano polarizzazione
  292. ortogonali prima di ricombinarsi. L'intervallo di scansione angolare
  293. consentito da questi AOD è di circa \SI{2.8}{\degree}, corrispondenti
  294. a variazioni di \SI{50}{\MHz} nella radiofrequenza fornita. Lungo
  295. questo intervallo l'efficienza dell'AOD, ovvero la frazione di fascio
  296. deflessa nel primo ordine di diffrazione, può variare
  297. significativamente. Questa dipendenza può essere nociva per gli
  298. esperimenti con le pinzette ottiche: se l'intensità dei fasci non è
  299. uniforme per tutte le posizioni della trappola, la costante elastica
  300. della pinzetta ottica varierà durante gli spostamenti, rendendo difficile la manipolazione
  301. del campione attraverso lunghe distanze e potenzialmente falsando i
  302. risultati degli esperimenti. Variando l'angolo di incidenza del
  303. fascio rispetto all'AOD è possibile ottimizzare questa dipendenza
  304. intorno a un intervallo di deflessioni angolari di nostro
  305. interesse. Resta comunque una variazione non trascurabile della
  306. rigidità delle trappole in funzione della posizione e per tenerne
  307. conto si utilizza un'apposita procedura di calibrazione in cui la
  308. rigidità viene misurata osservando la diffusione di una microsfera
  309. nella trappola, per una griglia equispaziata di punti
  310. (procedura descritta in sezione \ref{sec:calibration}).
  311. Per poter osservare e registrare gli spostamenti delle microsfere
  312. nella trappole così realizzate è stato implementato un sistema
  313. di rilevamento della radiazione nel piano focale posteriore del
  314. condensatore
  315. (\textit{back-focal plane detection}, BFPD).
  316. \begin{figure}[ht]
  317. \centering
  318. \includegraphics[width=\linewidth]{images/bfp.pdf}
  319. \caption{Principio di funzionamento della \textit{back-focal-plane detection} e andamento della sensibilità al variare della
  320. dimensione dello \textit{spot}}
  321. \label{fig:bfp}
  322. \end{figure}
  323. Il profilo d'intensità della luce diffusa in avanti da una microsfera
  324. in una trappola ottica, rilevato nel piano focale posteriore, permette
  325. di conoscere la posizione relativa della microsfera rispetto al centro
  326. della trappola, senza dipendere (in condizioni ideali) dalla posizione
  327. assoluta della trappola nel campione.
  328. Per sfruttare questa proprietà la radiazione a \SI{1064}{\nm} è
  329. estratta dal cammino ottico successivo al condensatore grazie ad uno
  330. specchio dicroico. Successivamente le due polarizzazioni,
  331. corrispondenti alle due trappole, vengono separate da un cubo
  332. polarizzatore, e inviate rispettivamente a due fotodiodi a quadranti
  333. (\textit{Quadrant Photodiode Detector, QPD}), posizionati in un piano
  334. coniugato con il piano focale posteriore del condensatore.
  335. In questo piano la distribuzione spaziale del campo elettrico è data
  336. dalla trasformata di Fourier del campo in corrispondenza del piano
  337. del campione messo a fuoco. È possibile dimostrare che nel caso di
  338. una sfera spostata rispetto al centro della trappola l'asimmetria del
  339. profilo d'intensità nel piano focale posteriore sarà direttamente
  340. proporzionale allo spostamento della sfera rispetto al centro
  341. della trappola. Grazie ai due QPD possiamo quindi quantificare
  342. l'asimmetria del profilo d'intensità della radiazione diffusa
  343. in avanti lungo due assi ortogonali, ottenendo letture proporzionali
  344. agli spostamenti relativi della microsfera. Queste letture vengono
  345. prodotte da un sistema di amplificatori differenziali che opera
  346. sui quattro quadranti, producendo in uscita segnali la cui tensione,
  347. dopo opportuna calibrazione, può essere messa in relazione allo
  348. spostamento della microsfera.
  349. \begin{figure}[ht]
  350. \centering
  351. \includegraphics[width=\textwidth]{images/qpd.pdf}
  352. \caption{Schema per la rilevazione della posizione relativa
  353. della microsfera.}
  354. \label{fig:qpd}
  355. \end{figure}
  356. Maggiori dettagli sull'elettronica che consente il controllo
  357. della deflessione attraverso gli AOD e la lettura del segnale
  358. dei QPD sono forniti nell'appendice \ref{app:electronics}, mentre
  359. le procedure di calibrazione sono trattate nella sezione
  360. \ref{sec:calibration}.
  361. \section{Fluorescenza}
  362. Il percorso di eccitazione per la microscopia di fluorescenza
  363. è realizzato a partire da tre sorgenti \textit{laser}:
  364. \begin{itemize}
  365. \item \textbf{\SI[detect-weight = true]{488}{\nm}:}
  366. Cobolt MLD™ 488, con potenza regolabile tra
  367. \SIlist{0;60}{\mW} attraverso programma di controllo.
  368. \item \textbf{\SI[detect-weight = true]{532}{\nm}:}
  369. Coherent Sapphire, con potenza regolabile tra
  370. \SIlist{0;200}{\mW} attraverso manopola di controllo.
  371. \item \textbf{\SI[detect-weight = true]{635}{\nm}:}
  372. Blue Sky Research FTEC-2-635, con potenza regolabile tra
  373. \SIlist{0;60}{mW} attraverso modulazione analogica in
  374. tensione.
  375. \end{itemize}
  376. Le tre sorgenti si trovano fuori dal tavolo ottico e la radiazione
  377. viene trasportata attraverso tre fibre ottiche.
  378. Sul tavolo ottico la radiazione viene emessa nello spazio libero
  379. tramite tre collimatori con specifiche diverse.
  380. \begin{table}[ht]
  381. \centering
  382. \begin{tabular}{c c c c}
  383. \toprule
  384. $\lambda [\si{\nm}]$ & f [\si{\mm}] & $(\textrm{BD})_{1/e^2} ~[\si{\mm}]$ & M\\
  385. \midrule
  386. 488 & 4 & 0.49 & 3.33x\\
  387. 532 & 11 & 1.57 &\\
  388. 635 & 6 & 1.07 & 1.66x\\
  389. \bottomrule
  390. \end{tabular}
  391. \caption{Collimatori usati per estrarre i fasci alle varie
  392. lunghezzed d'onda, con distanza focale indicata dal costruttore
  393. (f) e diametro del fascio (BD) misurato mediante \textit{fit}
  394. gaussiano del suo profilo d'intensità. Nella colonna
  395. M è riportato il fattore d'ingrandimento che abbiamo selezionato
  396. per ottenere fasci con dimensioni consistenti, attraverso l'utilizzo
  397. di telescopi.}
  398. \label{tab:my_label}
  399. \end{table}
  400. I fasci a \SIlist{488;635}{\nm} vengono ingranditi mediante due
  401. telescopi realizzati con lenti piano-convesse, in questo modo si
  402. ottengono dimensioni del fascio, e quindi caratteristiche di
  403. uniformità nell'illuminazione del campione, confrontabili e simili per
  404. tutte le lunghezze d'onda usate. Per il fascio a 635 nm si ottiene un
  405. fattore d’ingrandimento di 1.66x utilizzando le lenti \texttt{L-TS1a}
  406. e \texttt{L-TS1b}, per quello a \SI{488}{\nm} un fattore
  407. d’ingrandimento 3.33x utilizzando le lenti \texttt{L-TS2a} e
  408. \texttt{L-TS2b}. L'emissione dei laser a diodo deve essere filtrata
  409. attraverso filtri passa-banda stretti per evitare che radiazione a
  410. lunghezze d'onda spurie diffonda nel campione e contamini l'emissione
  411. di fluorescenza.
  412. I tre fasci laser vengono combinati in un unico percorso ottico
  413. attraverso due specchi dicroici (uno ottimizzato per riflettere il
  414. 90\% della radiazione a lunghezze d'onda inferiori ai 532 nm,
  415. \texttt{DIC-532}, e l'altro per riflettere il 90\% di quelle inferiori
  416. a 488 nm, \texttt{DIC-488}). Successivamente il fascio con le tre
  417. lunghezze d'onda combinate viene ingrandito di un fattore 10x per
  418. mezzo di un ulteriore telescopio sul percorso comune, formato dalle
  419. lenti \texttt{L-TS3a} e \texttt{L-TS3b}, raggiungendo un diametro
  420. $\approx \SI{2}{\cm}$.
  421. I fasci combinati sono focalizzati sul piano focale posteriore
  422. dell'obiettivo da una lente con focale $f = \SI{500}{\mm}$, ottenendo,
  423. in combinazione con uno dei due obiettivi di focale \SI{3.3}{\mm},
  424. un fattore di scala di circa $1/150$ e quindi un diametro
  425. $(\textrm{BD})_{1/e^2}$ sul campione di circa \SI{130}{\um}.
  426. Per immettere i fasci di eccitazione nel cammino ottico che porta
  427. all'obiettivo si usa un dicroico di fluorescenza a tre bande,
  428. in grado di riflettere le tre lunghezze d'onda di eccitazione e
  429. trasmettere tre finestre di emissione nel quale ricadono i fluorofori
  430. più comunemenete eccitati a tali lunghezze d'onda.
  431. La fluorescenza riemessa all'indietro dal campione, e quindi trasmessa
  432. dal dicroico di fluorescenza, è combinata con l'illuminazione a luce
  433. trasmessa, da cui sarà disaccoppiata per mezzo di un successivo
  434. dicroico.
  435. Il percorso di raccolta dell'emissione di fluorescenza, infatti,
  436. condivide la stesse ottiche di ingrandimento con il percorso di
  437. raccolta della luce trasmessa e quindi lo stesso fattore di
  438. ingrandimento $\approx 225x$.
  439. Uno specchio dicroico passa-alto con frequenza di taglio di \SI{705}{\nm}
  440. viene utilizzato per estrarre l'emissione di fluorescenza dal
  441. cammino di raccolta e indirizzarla verso il sensore di una fotocamera
  442. di tipo \textit{Electron-Multiplying Charged Coupled Device (EmCCD)}.
  443. La regione attiva del sensore è di \SI{8.19x8.19}{\mm},
  444. corrispondente ad un quadrato di lato \SI{36}{\um} sul piano del campione.
  445. Il diametro
  446. del fascio di eccitazione, \SI{130}{\um},
  447. è significativamente maggiore di questo
  448. valore per massimizzare l'uniformità della potenza con la quale
  449. la regione di interesse viene illuminata.
  450. Dai calcoli eseguiti in seizone \ref{sec:single_molecule_fluorescence},
  451. per questi parametri risulta una variazione massima di intensità del
  452. 17\% all'interno della regione.
  453. La camera usata per la rilevazione della fluorescenza è una ImagEM X2
  454. C9100-23B (Hamamatsu).
  455. Questo tipo di telecamera combina, al funzionamento tipico dei
  456. Charged-Coupled-Device (CCD), uno stadio di moltiplicazione degli
  457. elettroni, che consente di raggiungere, in presenza di raffreddamento
  458. a temperature inferiori ai \SI{-60}{\celsius}, la sensibilità del singolo
  459. fotone. Maggiori dettagli sulla messa in opera del sistema di imaging
  460. sono forniti in sezione \ref{sec:single_molecule_fluorescence}.
  461. Per poter realizzare gli schemi di illuminazione HILO e TIRF è stato
  462. introdotto, nella parte terminale del percorso di eccitazione, prima
  463. del filtro dicroico, uno specchio mobile controllato elettronicamente.
  464. Azionando questo specchio è possibile ottenere uno spostamento
  465. orizzontale del fascio di eccitazione, e quindi, poiché esso
  466. attraverserà il piano focale posteriore dell'obiettivo in un punto
  467. diverso dal suo centro, si avrà una deflessione angolare del fascio di
  468. eccitazione in uscita dall'obiettivo.
  469. \begin{sidewaysfigure}
  470. \includegraphics[width=1.0\linewidth]{images/setup.pdf}
  471. \caption{Vista d'insieme dell'apparato sperimentale}
  472. \label{fig:setup}
  473. \end{sidewaysfigure}
  474. \begin{sidewaystable}
  475. \centering
  476. \begin{tabular}{>{\tt}l l l >{\it}l l}
  477. \toprule
  478. Code & Type & Usage & Parameters & Product ID\\
  479. \midrule
  480. \multicolumn{5}{l}{\it Percorso eccitazione fluorescenza}\\
  481. F-Clean635
  482. & Filtro passa-banda
  483. & Pulizia spettrale laser \SI{635}{\nm}
  484. & $\lambda_{centr}: \SI{640}{\nm},
  485. bw: \SI{14}{\nm}$
  486. & FF01-640/14-25\\
  487. L-TS1a
  488. & Lente sferica piano-convessa
  489. & Telescopio per laser a \SI{635}{\nm}
  490. & f: \SI{30}{\mm}
  491. & \\
  492. L-TS1b
  493. & &
  494. & f: \SI{50}{\mm}
  495. & \\
  496. L-TS2a
  497. &
  498. & Telescopio per laser a \SI{488}{\nm}
  499. & f: \SI{30}{\mm}
  500. & \\
  501. L-TS2b
  502. & &
  503. & f: \SI{100}{\mm}
  504. & \\
  505. DIC-532
  506. & Filtro dicroico single-edge
  507. & Inserimento fascio a 532nm
  508. & $\lambda_{edge}: \SI{532}{\nm}$
  509. & Di02-R532-25-D\\
  510. DIC-488
  511. & & Inserimento fascio a 488nm
  512. & $\lambda_{edge}: \SI{488}{\nm}$
  513. & Di02-R488-25-D\\
  514. L-TS3a
  515. & Doppietto acromatico
  516. & Ingrandimento fasci fluorescenza
  517. & f: \SI{19}{\mm}
  518. & \\
  519. L-TS3b
  520. & &
  521. & f: \SI{200}{\mm}
  522. & \\
  523. L-Exc
  524. &
  525. & Focalizzazione fascio fluorescenza
  526. & f: \SI{500}{\mm}
  527. & \\
  528. DIC-Fluor
  529. & Filtro dicroico quad-edge
  530. & Separazione eccitazione/emissione
  531. & $\lambda_{edge}: \SIlist{405;488;532;635}{\nm}$
  532. & Di03-R405/488/532/635-t1 \\
  533. \multicolumn{5}{l}{\it Percorso trappole}\\
  534. L-TS4a
  535. & Lente sferica piano-convessa
  536. & Inserimento laser 1064nm in isolatore.
  537. & %f: \SI{0}{\mm}
  538. & \\
  539. L-TS4b
  540. & &
  541. & %f: \SI{0}{\mm}
  542. & \\
  543. L-TS5a
  544. & Lente sferica piano-convessa
  545. & Ingrandimento fascio 1064nm
  546. & %f: \SI{0}{\mm}
  547. & \\
  548. L-TS5b
  549. & &
  550. & %f: \SI{0}{\mm}
  551. & \\
  552. L-Twz1
  553. & Lente sferica piano-convessa
  554. & Ingrandimento rappole dopo AOD
  555. & f: \SI{0}{\mm}
  556. & \\
  557. L-Twz2
  558. & &
  559. & f: \SI{0}{\mm}
  560. & \\
  561. DIC-Twz1
  562. & Lente sferica piano-convessa
  563. & Inserimento fascio trappole
  564. & $\lambda_{edge}: \SI{1064}{\nm}$
  565. & \\
  566. \multicolumn{5}{l}{\it Percorso Imaging}\\
  567. L-Im1
  568. & Tube Lens
  569. & Tube Lens
  570. & f: \SI{0}{\mm}
  571. & \\
  572. L-Im2
  573. & Imaging Lens
  574. & Imaging Lens
  575. & f: \SI{0}{\mm}
  576. & \\
  577. DIC-BF
  578. & Filtro dicroico single-edge
  579. & Seprazione fluorescenza/brightfied
  580. & $\lambda_{edge}: \SI{705}{\nm}$
  581. & FF705-Di01-25x36\\
  582. F-BlockBF
  583. & Filtro passa-basso
  584. & Soppressione brightfield residuo
  585. & $\lambda_{cut}: \SI{700}{\nm}$
  586. & FESH0700\\
  587. F-Emiss
  588. & Filtro passa-banda quad-band
  589. & Fluorofori/Soppressione laser eccitazione
  590. & $\lambda_{centr}: \SIlist{446;510;581;703}{\nm}$
  591. & FF01-446/510/581/703\\
  592. F-BlockTwz
  593. & Filtro band-stop
  594. & Soppressione laser trappole residuo
  595. & $\lambda_{centr}: 1064nm$
  596. & \\
  597. \end{tabular}
  598. \caption{Lista delle componenti ottiche}
  599. \label{tab:optical_components}
  600. \end{sidewaystable}