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@ -293,6 +293,14 @@ nella trappole così realizzate è stato implementato un sistema |
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di rilevamento della radiazione diffusa nel piano focale posteriore |
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(\textit{back-focal plane detection}, BFPD). |
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\begin{figure}[ht] |
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\centering |
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\includegraphics[width=\linewidth]{images/bfp.pdf} |
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\caption{Principio di funzionamento della \textit{back-focal-plane detection} e andamento della sensibilità al variare della |
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dimensione dello \textit{spot}} |
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\label{fig:my_label} |
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\end{figure} |
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Il profilo d'intensità della luce diffusa in avanti da una microsfera |
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in una trappola ottica, rilevato nel piano focale posteriore, permette |
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di conoscere la posizione relativa della microsfera rispetto al centro |
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@ -321,16 +329,29 @@ sui quattro quadranti, producendo in uscita segnali la cui tensione, |
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dopo opportuna calibrazione, può essere messa in relazione allo |
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spostamento della microsfera. |
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\begin{figure}[ht] |
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\centering |
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\includegraphics[width=\textwidth]{images/qpd.pdf} |
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\caption{Schema per la rilevazione della posizione relativa |
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della microsfera.} |
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\label{fig:qpd} |
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\end{figure} |
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Maggiori dettagli sull'elettronica che consente il controllo |
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della deflessione attraverso gli AOM e la lettura del segnale |
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dei QPD sono forniti in appendice \ref{app:electronics}, mentre |
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dei QPD sono forniti nell'appendice \ref{app:electronics}, mentre |
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le procedure di calibrazione sono trattate nella sezione |
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\ref{sec:calibration}. |
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\section{Fluorescenza} |
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Il percorso di eccitazione per la microscopia di fluorescenza |
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è realizzato a partire da tre sorgenti \textit{laser} a diodo: |
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\begin{description} |
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\item[\SI{488}{\nm}] |
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\end{description} |
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\section{Apparto sperimentale} |
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