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- \chapter{Apparato sperimentale}
- \label{cap:setup}
-
- L'apparato sperimentale realizzato consiste in un microscopio
- invertito, progettato con la collaborazione dell'Officina Meccanica
- del LENS, che combina l'illuminazione a luce trasmessa con un sistema
- di due pinzette ottiche posizionabili attraverso deflettori acusto-ottici
- e con uno
- schema di microscopia di epifluorescenza, in grado di raggiungere
- la sensibilità di singola molecola e di alternare diversi schemi
- di illuminazione (campo largo, TIRF, HILO).
-
- Una rappresentazione schematica del microscopio è mostrata in figura
- \ref{fig:microscope}.
-
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- Il sistema è ottimizzato per consentire la coesistenza e il
- funzionamento simultaneo - minimizzando le sovrapposizioni
- spettrali - dei tre principali
- schemi di microscopia e manipolazione:
-
- \begin{description}
- \item[Illuminazione a luce trasmessa:] la luce emessa da una
- sorgente LED viene collimata da un
- condensatore e trasmessa dall'alto verso il basso attraverso
- il campione.
- L'obiettivo posto sotto il campione raccoglie la luce
- trasmessa e ricostruisce un'immagine ingrandita dello stesso.
- \item[Pinzette ottiche:] due intensi fasci laser vengono
- collimati sul piano focale posteriore dell'obiettivo,
- quindi focalizzati sul campione. In questo modo possono
- essere usati per intrappolare e manipolare microsfere
- in soluzione. La radiazione laser che attraversa
- il campione e viene raccolta dal condensatore può essere
- analizzata per monitorare lo stato delle trappole e lo
- spostamento dal centro delle sfere intrappolate.
- \item[Epifluorescenza:] Un fascio laser di eccitazione viene
- focalizzato sul piano focale posteriore dell'obiettivo, e
- quindi trasmesso collimato attraverso il campione. La
- radiazione di fluorescenza emessa all'indietro dal campione
- viene nuovamente raccolta dall'obiettivo e attraverso
- un opportuno specchio dicroico disaccoppiata dal fascio
- di eccitazione.
- \end{description}
-
- \begin{figure}[ht]
- \centering
- \includegraphics[width=1.1\linewidth]{images/microscope.pdf}
- \caption{Schema delle componenti principali del microscopio e dei percorsi
- ottici utilizzati. A: luce trasmessa, B: pinzette ottiche, C: epifluorescenza.}
- \label{fig:microscope}
- \end{figure}
-
- Per evitare interferenze è stato necessario
- scegliere opportune lunghezze d'onda per i tre schemi ottici
- e, di conseguenza, appropriati specchi dicroici
- e filtri.
-
- L'illuminazione a luce trasmessa è realizzata sfruttando una
- sorgente LED con spettro di emissione centrato a \SI{780}{\nm},
- le due pinzette ottiche vengono realizzate partendo da un laser
- a stato solido Nd:YAG con emissione a \SI{1064}{\nm}. Per la
- microscopia di fluorescenza si usano per l'eccitazione sorgenti
- laser a diodo alle lunghezze d'onda di \SIlist{488;532;635}{\nm} e
- l'emissione dei fluorofori fino a \SI{700}{\nm} può essere raccolta
- e disaccoppiata dall'illuminazione a luce trasmessa.
-
- Tuttavia, la necessità di ottenere una sensibilità di singola molecola
- rende particolarmente critica la scelta delle caratteristiche
- spettrali e di qualità delle sorgenti e delle componenti ottiche
- utilizzate. In particolare, come vedremo nel dettaglio in sezione
- \ref{sec:stabilization}, la stabilizzazione meccanica del sistema
- richiede un’illuminazione a luce trasmessa del campione di intensità
- sufficiente a produrre una chiara immagine delle microsfere
- immobilizzate sui sensori CMOS. Allo stesso tempo, la microscopia di
- fluorescenza richiede la rilevazione di segnali estremamente deboli,
- attraverso un sensore di tipo EmCCD raffreddato estremamente
- sensibile. In questo contesto, anche il passaggio di pochi fotoni al
- secondo tra i due cammini ottici comprometterebbe la sensibilità del
- sistema. Per risolvere questo problema è state scelta una sorgente LED
- con un profilo di emissione sufficientemente lontano dalle lunghezze
- d’onda usate per la fluorescenza (400-700 nm) e il posizionamento di
- un filtro ad alta efficienza per per eliminare l’emissione residua del
- LED nella regione di sovrapposizione. Un altra serie di filtri ad
- altra efficienza è stata posta in prossimità del sensore EMCCD,
- procendendo anche alla completa separazione spaziale (attraverso tubi,
- diaframmi e separatori) del cammino ottico, in modo eliminare quasi
- completamente la componente di radiazione LED che raggiunge la
- camera. L’utilizzo di un LED con emissione centrata nel vicino
- infrarosso, con lunghezza d’onda sensibilmente più vicina al diametro
- delle microsfere utilizzate, ha inoltre effetti significativi sul
- profilo radiale di intensità delle immagini prodotte delle
- microsfere. Questa differenza, rispetto ai profili osservati con un
- illuminazione alle lunghezze d’onda del visibile, ha reso necessario
- lo sviluppo ex-novo di un algoritmo per la determinazione della
- posizione del piano focale rispetto al centro della sfera, descritto
- sempre in sezione \ref{sec:stabilization}.
-
-
- \section{Microscopio e traslatori}
-
- Gli elementi ottici e optomeccanici principali che costituiscono
- il microscopio sono assemblati su una struttura metallica
- personalizzata, realizzata dall'Officina Meccanica del LENS.
- Questa struttura è poggiata su un tavolo ottico attraverso quattro
- elastomeri termoplastici (Newport NewDamp™) in grado di attenuare
- significativamente le vibrazioni meccaniche.
- Il tavolo ottico (Melles-Griot) è a sua volta isolato dal pavimento
- attraverso un sistema di smorzamento attivo ad aria compressa.
-
- Una miscela in soluzione acquosa delle varie molecole necessarie
- per gli esperimenti viene caricata in una camera di reazione
- realizzata tra due vetrini (portaoggetti e coprioggetti).
- Il preparato così assemblato viene fissato nel microscopio, attraverso
- quattro viti, su un tavolino traslatore (il \textit{traslatore corto
- raggio} in figura \ref{fig:microscope}), trovandosi quindi tra il
- \textit{condensatore} e l'\textit{obiettivo}.
-
- Per gli scopi di questa tesi sono stati usati due obiettivi
- differenti:
-
- \begin{itemize}
- \item Un obiettivo planapocromatico 60x a immersione ad acqua, con
- alta apertura numerica ($NA = 1.22$) e distanza di lavoro di
- \SI{0.2}{\mm} (Nikon)
- \item Un obiettivo TIRF 60x a immersione a olio, con alta apertura
- numerica ($NA = 1.49$) e distanza di lavoro di \SI{0.13}{\mm}
- (Nikon).
- \end{itemize}
-
- Il primo obiettivo presenta le caratteristiche migliori per quanto
- riguarda l'efficienza delle pinzette ottiche, anche a profondità
- significative all'interno del campione.
- Il secondo obiettivo invece permette la realizzazione di schemi di
- illuminazione TIRF, al prezzo di un'efficienza delle pinzette ottiche
- che decresce rapidamente all'aumentare del volume di campione
- attraversato.
-
- La posizione del campione rispetto al centro del percorso ottico può
- essere modificata attraverso due traslatori controllati
- elettronicamente, uno, il traslatore a corto raggio, di tipo
- piezoelettrico (Physik Instrumente, P-527) per spostamenti veloci e
- con risoluzione di \SI{1}{\nm}, con una corsa di \SI{100}{\um} per
- asse, e l'altro, il translatore a lungo raggio, dotato di un motore
- piezoelettrico (Steinmeyer, KDT105-PM) per spostamenti macroscopici con
- una corsa di \SI{50}{\mm} per asse e risoluzioni di \SI{100}{\nm}.
-
- Il piano focale può essere modificato variando la posizione
- dell'obiettivo, grazie a un posizionatore verticale piezoelettrico
- (Physik Instrumente, PIFOC™ P-725) con con una corsa di \SI{400}{\um}
- e risoluzione di \SI{2}{\nm}. Il microscopio è stato progettato in modo
- che al centro della corsa il piano focale si trovi in corrispondenza
- della superficie interna del vetrino portaoggetti (per un campione
- preparato nel modo descritto nei paragrafi precedenti).
-
- I posizionatori piezoelettrici per lo stage XY e per l'obiettivo
- sono connessi a due moduli elettronici di controllo (rispettivamente
- E-517 e E-665) e dotati di sensori che permettono il funzionamento in
- modalità a ciclo chiuso. I motori passo-passo del traslatore a lungo
- raggio sono invece controllati da un modulo elettronico fornito da
- Galil Motion Control e equipaggiati di un \textit{encoder} che
- permette la selezione e il monitoraggio della velocità di spostamento.
- Le tre unità di controllo sono connesse ad un PC mediante interfaccia
- seriale RS232 e possono essere programmate e controllate usando
- i protocolli di comunicazione GCS per i moduli Physik Instrumente
- e GC \cite{gclib} per il modulo Galil Motion Control.
-
- Per semplificare l'utilizzo dei tre gli attuatori durante
- la manipolazione di un campione è stato programma
- in ambiente LabVIEW che implementa i protocolli di comunicazione
- richiesti (\texttt{Joystick Control}).
- In particolare il codice sviluppato consente di utilizzare
- levette analogiche e cursori di un \textit{controller} della console
- Xbox 360 (Microsoft) per inviare comandi agli attuatori, rendendo la
- manipolazione del campione particolarmente semplice e intuitiva.
-
- \section{Illuminazione a luce trasmessa}
-
- La radiazione emessa da un LED ad alta intensità (Thorlabs, M780L3)
- con picco di emissione centrato nell'infrarosso, a \SI{780}{nm}, viene
- filtrata con un filtro passa-basso (Thorlabs, FEHL0750) in modo da
- sopprimere l'emissione a lunghezze d'onda inferiori a \SI{750}{nm} che
- andrebbe a interferire con il rilevamento della fluorescenza.
- Successivamente, con l'ausilio di una singola lente e un accoppiatore
- in fibra (Thorlabs), la radiazione emessa dal LED e filtrata viene
- immessa in una fibra ottica e trasportata in corrispondenza del
- microscopio. All'altra estremità della fibra, in basso a destra nello
- schema ottico mostrato in figura \ref{fig:setup}, un sistema formato
- da un collimatore, un diaframma e una lente (\texttt{L-BF} nello
- schema) aggiusta le dimensioni e la divergenza del fascio di
- illuminazione, focalizzandolo sul piano focale posteriore del
- condensatore. Il fascio di illuminazione collimato illumina il
- campione, lo attraversa e la radiazione trasmessa e diffusa viene
- raccolta dall'obiettivo. Gli obiettivi usati sono corretti
- all'infinito, questo significa che le aberrazioni sono corrette quando
- il campione è posto sul piano focale anteriore dell'obiettivo e i
- raggi provenienti da tale piano e in uscita dall'obiettivo sono
- collimati. Inserendo nel percorso ottico una \textit{tube lens}
- (\texttt{L-Im1}), posta dopo il dicroico di fluorescenza
- (\texttt{DIC-Fluor}), l'immagine viene quindi formata sul piano focale
- (\texttt{Image plane}) della stessa lente. La distanza focale
- dell'obiettivo è di \SI{3.3}{\mm}, quella della \textit{tube lens} di
- \SI{250}{\mm}. Otteniamo quindi la formazione di un'immagine del
- piano del campione selezionato a una distanza di \SI{250}{\mm} dalla
- lente e con un fattore di ingrandimento $M = 250/3.3 \approx 75$.
- Questa immagine viene ulteriormente ingrandita mediante l'uso di
- un'ulteriore lente (\texttt{L-Im2}) con distanza focale \SI{75}{\mm}
- posta a \SI{350}{mm} dalla lente di tubo. In questo modo si ottiene,
- a una distanza di \SI{30}{\cm} dall'ultima lente, un ulteriore
- ingrandimento di un fattore $M' = 300 / (350-250) = 3$. A questa
- distanza l'immagine viene rilevata, dopo aver diviso il cammino ottico
- in due rami con un \textit{beam-splitter} (\texttt{BS-BF}), da due
- sensori CMOS monocromatici (Thorlabs DCC1545M). La potenza viene
- suddivisa tra i due sensori secondo il rapporto 90:10. Il sensore che
- riceve la frazione maggiore di potenza sarà utilizzato per il sistema
- attivo di stabilizzazione meccanica (descritto in sezione
- \ref{sec:stabilization}), dopo aver filtrato la radiazione residua a
- \SI{1064}{\nm} con un apposito filtro (\texttt{F-BlockTwz}); l'altro
- sensore verrà utilizzato per mostrare costantemente su un monitor
- l'immagine del campione.
-
- I sensori CMOS usati hanno una risoluzione di \SI{1280x1024}{pixel} e
- un'area attiva di \SI{6.66x5.32}{\mm}, corrispondenti a una dimensione
- di \SI{5.2x5.2}{\um} per ogni pixel. La velocità di acquisizione è di
- \SI{30}{fps} per l'intera superficie del sesnore, ma è possibile
- incrementarla riducendo la dimensione della regione
- d'interesse.
-
- Tenendo conto del fattore complessivo di ingrandimento
- ($75\times 3 = 225$) un'immagine completa corrisponde a una regione
- del campione \SI{30x24}{\um}, la dimensione di un singolo pixel
- corrisponde invece ad un quadrato di lato \SI{23}{\nm} sul campione.
- I valori corretti possono essere determinati solo sperimentalmente
- dopo aver fissato l'allineamento del percorso ottico e delle
- telecamere.
-
- Per ottenere i fattori reali di conversione tra pixel e dimensioni sul
- campione ho sviluppato un programma in ampiente LabVIEW che,
- sfruttando una microsfera immobilizzata sul vetrino portaoggetti,
- consente di eseguire una calibrazione assistita (sezione
- \ref{sec:stabilization}).
-
-
- \section{Pinzette ottiche}
- \label{sec:tweezer}
-
- Il fascio \textit{laser} collimato in uscita da una sorgente
- \ce{Nd}:\ce{YVO4}, in alto a destra nello schema di figura
- \ref{fig:setup}, dopo essere stato ridotto in diametro
- grazie a un telescopio (lenti \texttt{L-TS4a} e \texttt{L-TS4b}),
- attraversa immediatamente una serie di due isolatori
- ottici, necessari per ridurre al minimo le instabilità della sorgente
- dovute alla retro-riflessione, e viene nuovamente ingrandito con un
- secondo telescopio (lenti \texttt{L-TS5a} e \texttt{L-TS5b}).
- Successivamente, dopo aver attraversato una lamina $\lambda/2$,
- viene diviso da un \textit{beam splitter} polarizzatore (\texttt{BS-Twz1})
- in due fasci ortogonali.
- I due fasci avranno polarizzazioni parallele o perpendicolari rispetto
- alla superficie del tavolo ottico, e la lamina $\lambda/2$ consente di
- modificare la ripartizione di potenza tra i due rami.
- I due rami vengono ricombinati utilizzando un secondo cubo
- polarizzatore (\texttt{BS-Twz2}), dopo aver attraversato due
- deflettori acusto-ottici
- (\textit{Acousto Optic Deflector, AOD}).
- Gli AOD vengono realizzati ponendo un cristallo di diossido
- di tellurio (\ce{TeO2}) in contatto
- con un trasduttore piezoelettrico: la radiofrequenza trasmessa al
- trasduttore consente l'instaurazione di un onda stazionaria acustica
- all'interno del cristallo, che si comporta sostanzialmente come un
- reticolo di diffrazione. Variando l'ampiezza e la frequenza del
- segnale
- elettrico inviato agli AOD è possibile modificare le caratteristiche
- dell'onda acustica stazionaria nel cristallo, e quindi ottenere una
- deflessiondel fascio in uscita.
-
- Gli elementi ottici sono allineati in modo che quando a entrambi
- gli AOD viene applicato un segnale di \SI{75}{MHz} i due rami
- incidano perpendicolarmente sull'ultimo cubo polarizzatore e proseguano
- il loro percorso esattamente sovrapposti (linea continua nella
- figura \ref{fig:aom}).
-
- \begin{figure}[ht]
- \centering
- \includegraphics[width=\linewidth]{images/aom.pdf}
- \caption{Schema per la realizzazione di due pinzette ottiche
- indipendenti.}
- \label{fig:aom}
- \end{figure}
-
- Una coppia di lenti piano-convesse incrementa la dimensione del fascio
- e rende il
- piano focale posteriore dell'obiettivo coniugato con il piano
- delle uscite degli AOD. In questo modo, per qualsiasi deflessione
- angolare introdotta sui due rami i fasci delle due trappole
- passeranno sempre collimati per il centro del piano focale posteriore
- dell'obiettivo, con angolo d'incidenza dipendente dalla radiofrequenza
- applicata. I fasci, quindi, attraversano l'obiettivo e vengono
- focalizzati dentro il campione propagandosi parallelamente all'asse
- ottico principale. La variazione di angolo di incidenza nel piano
- focale posteriore dell'obiettivo si tradue in uno spostamento
- orizzontale dei fasci nel piano del campione: in questo modo,
- regolando la radiofrequenza degli AOD è possibile spostare la posizione
- delle trappole lungo una linea orizzontale all'interno del campione.
-
- I fattori di conversione tra posizione della trappola nel campione e
- frequenza inviata all'AOD, determinati dalle caratteristiche degli AOD
- e dalla geometria del sistema ottico, vengono determinati a posteriori
- visualizzando microsfere intrappolate e creando rette di calibrazione
- (vedi sezione \ref{sec:calibration}).
-
- I deflettori acusto-ottici utilizzati (AA Opto-Electronic, DTSXY-250)
- sfruttano onde acustiche di taglio, in cui la velocità di propagazione
- dell'onda è perpendicolare al fascio in ingresso; in questo modo i
- nodi dell'onda stazionaria si dispongono lungo un asse parallela al
- banco ottico.
- Questo tipo di deflettori richiedono una polarizzazione in
- ingresso lineare e perpendicolare all'onda acustica e producono in uscita un fascio con polarizzazione ortogonale rispetto a quella in ingresso.
- Per questo nel
- percorso ottico vengono aggiunte due ulteriori lamine $\lambda / 2$:
- una permette di aver per entrambi gli AOD la stessa polarizzazione in
- ingresso, la seconda ruota nuovamente di \SI{90}{\degree} la
- polarizzazione di uno dei due fasci in modo che abbiano polarizzazione
- ortogonali prima di ricombinarsi. L'intervallo di scansione angolare
- consentito da questi AOD è di circa \SI{2.8}{\degree}, corrispondenti
- a variazioni di \SI{50}{\MHz} nella radiofrequenza fornita. Lungo
- questo intervallo l'efficienza dell'AOD, ovvero la frazione di fascio
- deflessa nel primo ordine di diffrazione, può variare
- significativamente. Questa dipendenza può essere nociva per gli
- esperimenti con le pinzette ottiche: se l'intensità dei fasci non è
- uniforme per tutte le posizioni della trappola, la costante elastica
- della pinzetta ottica varierà durante gli spostamenti, rendendo difficile la manipolazione
- del campione attraverso lunghe distanze e potenzialmente falsando i
- risultati degli esperimenti. Variando l'angolo di incidenza del
- fascio rispetto all'AOD è possibile ottimizzare questa dipendenza
- intorno a un intervallo di deflessioni angolari di nostro
- interesse. Resta comunque una variazione non trascurabile della
- rigidità delle trappole in funzione della posizione e per tenerne
- conto si utilizza un'apposita procedura di calibrazione in cui la
- rigidità viene misurata osservando la diffusione di una microsfera
- nella trappola, per una griglia equispaziata di punti
- (procedura descritta in sezione \ref{sec:calibration}).
-
- Per poter osservare e registrare gli spostamenti delle microsfere
- nella trappole così realizzate è stato implementato un sistema
- di rilevamento della radiazione nel piano focale posteriore del
- condensatore
- (\textit{back-focal plane detection}, BFPD).
-
- \begin{figure}[ht]
- \centering
- \includegraphics[width=\linewidth]{images/bfp.pdf}
- \caption{Principio di funzionamento della \textit{back-focal-plane detection} e andamento della sensibilità al variare della
- dimensione dello \textit{spot}}
- \label{fig:bfp}
- \end{figure}
-
- Il profilo d'intensità della luce diffusa in avanti da una microsfera
- in una trappola ottica, rilevato nel piano focale posteriore, permette
- di conoscere la posizione relativa della microsfera rispetto al centro
- della trappola, senza dipendere (in condizioni ideali) dalla posizione
- assoluta della trappola nel campione.
-
- Per sfruttare questa proprietà la radiazione a \SI{1064}{\nm} è
- estratta dal cammino ottico successivo al condensatore grazie ad uno
- specchio dicroico. Successivamente le due polarizzazioni,
- corrispondenti alle due trappole, vengono separate da un cubo
- polarizzatore, e inviate rispettivamente a due fotodiodi a quadranti
- (\textit{Quadrant Photodiode Detector, QPD}), posizionati in un piano
- coniugato con il piano focale posteriore del condensatore.
- In questo piano la distribuzione spaziale del campo elettrico è data
- dalla trasformata di Fourier del campo in corrispondenza del piano
- del campione messo a fuoco. È possibile dimostrare che nel caso di
- una sfera spostata rispetto al centro della trappola l'asimmetria del
- profilo d'intensità nel piano focale posteriore sarà direttamente
- proporzionale allo spostamento della sfera rispetto al centro
- della trappola. Grazie ai due QPD possiamo quindi quantificare
- l'asimmetria del profilo d'intensità della radiazione diffusa
- in avanti lungo due assi ortogonali, ottenendo letture proporzionali
- agli spostamenti relativi della microsfera. Queste letture vengono
- prodotte da un sistema di amplificatori differenziali che opera
- sui quattro quadranti, producendo in uscita segnali la cui tensione,
- dopo opportuna calibrazione, può essere messa in relazione allo
- spostamento della microsfera.
-
- \begin{figure}[ht]
- \centering
- \includegraphics[width=\textwidth]{images/qpd.pdf}
- \caption{Schema per la rilevazione della posizione relativa
- della microsfera.}
- \label{fig:qpd}
- \end{figure}
-
- Maggiori dettagli sull'elettronica che consente il controllo
- della deflessione attraverso gli AOD e la lettura del segnale
- dei QPD sono forniti nell'appendice \ref{app:electronics}, mentre
- le procedure di calibrazione sono trattate nella sezione
- \ref{sec:calibration}.
-
- \section{Fluorescenza}
-
- Il percorso di eccitazione per la microscopia di fluorescenza
- è realizzato a partire da tre sorgenti \textit{laser}:
-
- \begin{itemize}
- \item \textbf{\SI[detect-weight = true]{488}{\nm}:}
- Cobolt MLD™ 488, con potenza regolabile tra
- \SIlist{0;60}{\mW} attraverso programma di controllo.
- \item \textbf{\SI[detect-weight = true]{532}{\nm}:}
- Coherent Sapphire, con potenza regolabile tra
- \SIlist{0;200}{\mW} attraverso manopola di controllo.
- \item \textbf{\SI[detect-weight = true]{635}{\nm}:}
- Blue Sky Research FTEC-2-635, con potenza regolabile tra
- \SIlist{0;60}{mW} attraverso modulazione analogica in
- tensione.
-
- \end{itemize}
-
- Le tre sorgenti si trovano fuori dal tavolo ottico e la radiazione
- viene trasportata attraverso tre fibre ottiche.
- Sul tavolo ottico la radiazione viene emessa nello spazio libero
- tramite tre collimatori con specifiche diverse.
-
- \begin{table}[ht]
- \centering
- \begin{tabular}{c c c c}
- \toprule
- $\lambda [\si{\nm}]$ & f [\si{\mm}] & $(\textrm{BD})_{1/e^2} ~[\si{\mm}]$ & M\\
- \midrule
- 488 & 4 & 0.49 & 3.33x\\
- 532 & 11 & 1.57 &\\
- 635 & 6 & 1.07 & 1.66x\\
- \bottomrule
- \end{tabular}
- \caption{Collimatori usati per estrarre i fasci alle varie
- lunghezzed d'onda, con distanza focale indicata dal costruttore
- (f) e diametro del fascio (BD) misurato mediante \textit{fit}
- gaussiano del suo profilo d'intensità. Nella colonna
- M è riportato il fattore d'ingrandimento che abbiamo selezionato
- per ottenere fasci con dimensioni consistenti, attraverso l'utilizzo
- di telescopi.}
- \label{tab:my_label}
- \end{table}
-
- I fasci a \SIlist{488;635}{\nm} vengono ingranditi mediante due
- telescopi realizzati con lenti piano-convesse, in questo modo si
- ottengono dimensioni del fascio, e quindi caratteristiche di
- uniformità nell'illuminazione del campione, confrontabili e simili per
- tutte le lunghezze d'onda usate. Per il fascio a 635 nm si ottiene un
- fattore d’ingrandimento di 1.66x utilizzando le lenti \texttt{L-TS1a}
- e \texttt{L-TS1b}, per quello a \SI{488}{\nm} un fattore
- d’ingrandimento 3.33x utilizzando le lenti \texttt{L-TS2a} e
- \texttt{L-TS2b}. L'emissione dei laser a diodo deve essere filtrata
- attraverso filtri passa-banda stretti per evitare che radiazione a
- lunghezze d'onda spurie diffonda nel campione e contamini l'emissione
- di fluorescenza.
-
- I tre fasci laser vengono combinati in un unico percorso ottico
- attraverso due specchi dicroici (uno ottimizzato per riflettere il
- 90\% della radiazione a lunghezze d'onda inferiori ai 532 nm,
- \texttt{DIC-532}, e l'altro per riflettere il 90\% di quelle inferiori
- a 488 nm, \texttt{DIC-488}). Successivamente il fascio con le tre
- lunghezze d'onda combinate viene ingrandito di un fattore 10x per
- mezzo di un ulteriore telescopio sul percorso comune, formato dalle
- lenti \texttt{L-TS3a} e \texttt{L-TS3b}, raggiungendo un diametro
- $\approx \SI{2}{\cm}$.
-
- I fasci combinati sono focalizzati sul piano focale posteriore
- dell'obiettivo da una lente con focale $f = \SI{500}{\mm}$, ottenendo,
- in combinazione con uno dei due obiettivi di focale \SI{3.3}{\mm},
- un fattore di scala di circa $1/150$ e quindi un diametro
- $(\textrm{BD})_{1/e^2}$ sul campione di circa \SI{130}{\um}.
- Per immettere i fasci di eccitazione nel cammino ottico che porta
- all'obiettivo si usa un dicroico di fluorescenza a tre bande,
- in grado di riflettere le tre lunghezze d'onda di eccitazione e
- trasmettere tre finestre di emissione nel quale ricadono i fluorofori
- più comunemenete eccitati a tali lunghezze d'onda.
- La fluorescenza riemessa all'indietro dal campione, e quindi trasmessa
- dal dicroico di fluorescenza, è combinata con l'illuminazione a luce
- trasmessa, da cui sarà disaccoppiata per mezzo di un successivo
- dicroico.
-
- Il percorso di raccolta dell'emissione di fluorescenza, infatti,
- condivide la stesse ottiche di ingrandimento con il percorso di
- raccolta della luce trasmessa e quindi lo stesso fattore di
- ingrandimento $\approx 225x$.
-
- Uno specchio dicroico passa-alto con frequenza di taglio di \SI{705}{\nm}
- viene utilizzato per estrarre l'emissione di fluorescenza dal
- cammino di raccolta e indirizzarla verso il sensore di una fotocamera
- di tipo \textit{Electron-Multiplying Charged Coupled Device (EmCCD)}.
-
- La regione attiva del sensore è di \SI{8.19x8.19}{\mm},
- corrispondente ad un quadrato di lato \SI{36}{\um} sul piano del campione.
- Il diametro
- del fascio di eccitazione, \SI{130}{\um},
- è significativamente maggiore di questo
- valore per massimizzare l'uniformità della potenza con la quale
- la regione di interesse viene illuminata.
- Dai calcoli eseguiti in seizone \ref{sec:single_molecule_fluorescence},
- per questi parametri risulta una variazione massima di intensità del
- 17\% all'interno della regione.
-
- La camera usata per la rilevazione della fluorescenza è una ImagEM X2
- C9100-23B (Hamamatsu).
- Questo tipo di telecamera combina, al funzionamento tipico dei
- Charged-Coupled-Device (CCD), uno stadio di moltiplicazione degli
- elettroni, che consente di raggiungere, in presenza di raffreddamento
- a temperature inferiori ai \SI{-60}{\celsius}, la sensibilità del singolo
- fotone. Maggiori dettagli sulla messa in opera del sistema di imaging
- sono forniti in sezione \ref{sec:single_molecule_fluorescence}.
-
- Per poter realizzare gli schemi di illuminazione HILO e TIRF è stato
- introdotto, nella parte terminale del percorso di eccitazione, prima
- del filtro dicroico, uno specchio mobile controllato elettronicamente.
- Azionando questo specchio è possibile ottenere uno spostamento
- orizzontale del fascio di eccitazione, e quindi, poiché esso
- attraverserà il piano focale posteriore dell'obiettivo in un punto
- diverso dal suo centro, si avrà una deflessione angolare del fascio di
- eccitazione in uscita dall'obiettivo.
-
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-
- \begin{sidewaysfigure}
- \includegraphics[width=1.0\linewidth]{images/setup.pdf}
- \caption{Vista d'insieme dell'apparato sperimentale}
- \label{fig:setup}
- \end{sidewaysfigure}
-
- \begin{sidewaystable}
- \centering
- \begin{tabular}{>{\tt}l l l >{\it}l l}
- \toprule
- Code & Type & Usage & Parameters & Product ID\\
- \midrule
- \multicolumn{5}{l}{\it Percorso eccitazione fluorescenza}\\
- F-Clean635
- & Filtro passa-banda
- & Pulizia spettrale laser \SI{635}{\nm}
- & $\lambda_{centr}: \SI{640}{\nm},
- bw: \SI{14}{\nm}$
- & FF01-640/14-25\\
- L-TS1a
- & Lente sferica piano-convessa
- & Telescopio per laser a \SI{635}{\nm}
- & f: \SI{30}{\mm}
- & \\
- L-TS1b
- & &
- & f: \SI{50}{\mm}
- & \\
- L-TS2a
- &
- & Telescopio per laser a \SI{488}{\nm}
- & f: \SI{30}{\mm}
- & \\
- L-TS2b
- & &
- & f: \SI{100}{\mm}
- & \\
- DIC-532
- & Filtro dicroico single-edge
- & Inserimento fascio a 532nm
- & $\lambda_{edge}: \SI{532}{\nm}$
- & Di02-R532-25-D\\
- DIC-488
- & & Inserimento fascio a 488nm
- & $\lambda_{edge}: \SI{488}{\nm}$
- & Di02-R488-25-D\\
- L-TS3a
- & Doppietto acromatico
- & Ingrandimento fasci fluorescenza
- & f: \SI{19}{\mm}
- & \\
- L-TS3b
- & &
- & f: \SI{200}{\mm}
- & \\
- L-Exc
- &
- & Focalizzazione fascio fluorescenza
- & f: \SI{500}{\mm}
- & \\
- DIC-Fluor
- & Filtro dicroico quad-edge
- & Separazione eccitazione/emissione
- & $\lambda_{edge}: \SIlist{405;488;532;635}{\nm}$
- & Di03-R405/488/532/635-t1 \\
- \multicolumn{5}{l}{\it Percorso trappole}\\
- L-TS4a
- & Lente sferica piano-convessa
- & Inserimento laser 1064nm in isolatore.
- & %f: \SI{0}{\mm}
- & \\
- L-TS4b
- & &
- & %f: \SI{0}{\mm}
- & \\
- L-TS5a
- & Lente sferica piano-convessa
- & Ingrandimento fascio 1064nm
- & %f: \SI{0}{\mm}
- & \\
- L-TS5b
- & &
- & %f: \SI{0}{\mm}
- & \\
- L-Twz1
- & Lente sferica piano-convessa
- & Ingrandimento rappole dopo AOD
- & f: \SI{0}{\mm}
- & \\
- L-Twz2
- & &
- & f: \SI{0}{\mm}
- & \\
- DIC-Twz1
- & Lente sferica piano-convessa
- & Inserimento fascio trappole
- & $\lambda_{edge}: \SI{1064}{\nm}$
- & \\
- \multicolumn{5}{l}{\it Percorso Imaging}\\
- L-Im1
- & Tube Lens
- & Tube Lens
- & f: \SI{0}{\mm}
- & \\
- L-Im2
- & Imaging Lens
- & Imaging Lens
- & f: \SI{0}{\mm}
- & \\
- DIC-BF
- & Filtro dicroico single-edge
- & Seprazione fluorescenza/brightfied
- & $\lambda_{edge}: \SI{705}{\nm}$
- & FF705-Di01-25x36\\
- F-BlockBF
- & Filtro passa-basso
- & Soppressione brightfield residuo
- & $\lambda_{cut}: \SI{700}{\nm}$
- & FESH0700\\
- F-Emiss
- & Filtro passa-banda quad-band
- & Fluorofori/Soppressione laser eccitazione
- & $\lambda_{centr}: \SIlist{446;510;581;703}{\nm}$
- & FF01-446/510/581/703\\
- F-BlockTwz
- & Filtro band-stop
- & Soppressione laser trappole residuo
- & $\lambda_{centr}: 1064nm$
- & \\
- \end{tabular}
- \caption{Lista delle componenti ottiche}
- \label{tab:optical_components}
- \end{sidewaystable}
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