@ -66,8 +66,8 @@ alla quota del piano focale rispetto al centro della sfera.
Il metodo sviluppato sfrutta le caratteristiche dalla distribuzione
radiale della luce diffusa dalla microsfera.
In figura \ref { fig:radial_ itensity} rappresentato l'andamento del profilo radiale variando
la quota del piano focale (z).
In figura \ref { fig:radial_ itensity} rappresentato l'andamento del
profilo radiale variando la quota del piano focale (z).
\begin { figure} [h]
\centering
@ -82,11 +82,83 @@ integrata nella regione interna al medesimo anello (regioni gialle
e arancioni in figura), mostra un andamento proporzionale alla quota
del piano focale, almeno in un certo intorno del centro della sfera.
In figura \ref { fig:z_ est} viene mostrato l'andamento del rapporto
tra l'intensità media in un anello con raggio interno ed esterno
rispettivamente di \SIlist { 80;160} { pixel} e l'intensità media
calcolata in un raggio di \SI { 60} { pixel} .
\begin { figure} [h]
\centering
\includegraphics { images/z-est.pdf}
\caption { Andamento del rapporto intensità anello/cerchio in
funzione della quota del piano focale.}
\label { fig:z_ est}
\end { figure}
Come si può osservare la quantità così definita può essere usata
per determinare la quota con una discreta sensibilità in
un intervallo di \SIrange { 3} { 4} { \um } intorno al centro della sfera.
Analogamente a quanto fatto per le assi x e y è possibile eseguire
una calibrazione spostando il campione di una quota controllata
attraverso il traslatore piezoelettrico dell'obiettivo, e costruire
una curva di calibrazione come quella in figura \ref { fig:z_ est} .
Conoscendo quindi tre fattori di calibrazione è possibile, partendo
da un'immagine della microsfera, ottenere una stima della sua
posizione nello spazio tridimensionale. Questo fatto ci permette
di implementare un sistema attivo di stabilizzazione meccanica del
microscopio. Continuando a monitorare la sfera mediante mentre si
eseguono le misurazioni di forza è possibile rilevare gli spostamenti
del campione e compensarli inviando appositi comandi ai traslatori
piezoelettrici.
In ambiente LabVIEW è stato sviluppato un codice di controllo
che implementa un meccanismo di retroazione tra le letture sulla
posizione della sfera e i traslatori piezoelettrici.
Il codice consente all'operatore di selezionare la regione
d'interesse intorno a una microsfera immobilizzata sul vetrino
coprioggetti. Successivamente, quando la stabilizzazione viene
attivata, il codice acquisice diverse immagini della microsfera e
ne stima la posizione iniziale in termini di coordinate (x, y, z),
usando i fattori di conversione determinati con la calibrazione.
A questo punto viene avviato un ciclo di retroazione: continuando
a acquisire immagini della microsfera (a una frequenza che può
arrivare fino a \SI { 100} { \Hz } ), viene comandato ai traslatori
uno spostamento proporzionale alla differenza tra la posizione della
sfera rilevata e quella iniziale.
Quando il sistema di stabilizzazione meccanica viene attivato
è stato possibile mostrare che la posizione media del campione resta
stabile indipendentemente dal tempo di osservazione, con fluttuazione
che hanno una deviazione standard di circa \SI { 1} { \nm } .
Introdurre nel ciclo di controlla alla componente proporzionale
una componente integrale o derivativa non altera significativamente
la stabilizzazione raggiunta.
L'acquisizione di diverse tracce della durata di 5-10 minuti ha
sempre mostrato deviazioni standard delle fluttuazioni comprese
tra \SIlist { 1;2} { \nm } .
\section { Calibrazione parametri trappole}
\label { sec:calibration}
Per poter eseguire misurazioni di forza su sistemi biologici è
fondamentale riuscire a conoscere il valore della tensione applicata
alle microsfere intrappolate nelle pinzette ottiche. Questo è
possibile dal momento che l'azione di una pinzetta ottica su una
microsfera può essere modellizzata come una forza di richiamo
elastica (vedi sezione \ref { sec:ot} ).
Conoscendo la costante di richiamo è possibile mettere in relazione
la posizione della sfera rispetto al centro della trappola
(rilevabile tramite i QPD) con la risultante delle altre forze
esterne che agiscono sulla microsfera.
\section { Retroazione AOM e \textit { force-clamp} }
\label { sec:force-clamp}